Ribas, Rafael PerezSoares, Sergei Suarez Dillon2013-07-252013-07-252008-08http://repositorio.ipea.gov.br/handle/11058/1516O objetivo deste artigo é estimar os determinantes do atrito/permanência de pessoas no painel da Pesquisa Mensal de Emprego (PME), do Instituto Brasileiro de Geografia e Estatística (IBGE) e, além disso, testar se ignorar a não-aleatoriedade deste desgaste causa algum viés na análise de regressões. O atrito pode ser de três tipos: a) aleatório, que não gera qualquer tipo de viés em estimações de parâmetros; b) função de variáveis observadas, cujo viés pode ser corrigido mediante repesagem adequada; e c) função de variáveis não-observadas, cujo viés pode ser corrigido usando-se um probit bivariado para variáveis discretas ou a correção de Heckman para variáveis contínuas. Os resultados apontam que a taxa de atrito na pesquisa tende a ser maior nos meses de férias, e que há uma forte correlação dessa taxa com as características geralmente associadas a uma mobilidade geográfica maior. Além disso, tanto características do processo de entrevista quanto fatores socioeconômicos são significativamente relacionados à probabilidade de atrito no painel. Nos modelos adotados para testar o viés do desgaste no painel, assim como de outros critérios de seleção amostral, constatamos que todos estes são endógenos, apesar de alguns não estarem diretamente correlacionados com a equação de interesse. Por fim, mostramos que a ausência do controle para seleção amostral, o que inclui a retenção no painel, pode incorrer em algumas análises enviesadas. Contudo, a inclusão do controle para somente alguns mecanismos de seleção pode fornecer estatísticas ainda mais inconsistentes do que se não fosse incluído nenhum mecanismo.porAcesso AbertoO atrito nas pesquisas longitudinais: o caso da Pesquisa Mensal de Emprego (PME) do IBGETexto para Discussão (TD) 1347: O atrito nas pesquisas longitudinais: o caso da Pesquisa Mensal de Emprego (PME) do IBGEThe Attrition in longitudinal studies: the case of the Monthly Employment Survey (PME) from IBGEWorking paperInstituto de Pesquisa Econômica Aplicada (Ipea)Licença ComumÉ permitida a reprodução deste texto e dos dados nele contidos, desde que citada a fonte. Reproduções para fins comerciais são proibidas.Permanência no empregoAtrito no empregoPesquisaPesquisa mensal de emprego